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金屬分析用真空光發(fā)射光譜儀
摘要：
HST-W5光譜儀引進了歐洲的先進技術(shù)。它是用于金屬分析的第四代Arc/Spark-OES，具有高性能和低運行成本，是檢測設(shè)備的最新研發(fā)。整體光學(xué)設(shè)計得到了增強，并通過CMOS技術(shù)的改進，進一步提高了W5的性能，同時保留了早期單元的主要優(yōu)勢。CMOS光譜儀不僅具有CCD光譜儀的全部光譜特性，而且對C、S、P、B、As、N等非金屬元素具有極低的檢測限。操作簡單易學(xué)。測試結(jié)果穩(wěn)定、準確。它是所有普通金屬進出產(chǎn)品質(zhì)量控制的良好選擇。
應(yīng)用程序：
HST-W5光發(fā)射光譜儀（spark OES）用于冶金、鑄造、機械工程、科學(xué)研究、產(chǎn)品檢測、汽車、石化工程、造船、電氣、航空航天、核電、金屬和有色金屬冶煉、加工和回收等科學(xué)和工業(yè)的金屬元素分析、微量元素分析。
需要高精度或碳、氮、鉻、硫、磷等元素的鋼鐵廠。
測試實驗室：商業(yè)測試實驗室、大學(xué)和學(xué)院
純金屬應(yīng)用純鋁、鉛、鋅、銅等。-大多數(shù)工業(yè)用戶
控制鉛、鎘、砷等的法規(guī)合規(guī)性非常低。
需要在熔爐附近進行快速分析的鑄造廠
生產(chǎn)設(shè)施
倉庫物料標識
堿：鐵、銅、鋁、鎳、鈷、鎂、鈦、鋅、鉛、錫、銀、錳、鉻等
關(guān)聯(lián)產(chǎn)品
